扩散, 薄膜和掺杂
所有CMOS和双极技术的加工都在4英寸和6英寸上(2008年7月)
特殊地扩散到1250c (碳化硅炉中),在硅生长的过程中维持。
P型(硼)和N型(磷,砷)炉或掺杂。
LPCVD多晶硅门电极,电阻器( 1000欧姆/平方) ,沟槽填补,和MEMS的牺牲层。
LPCVD的locos氮化物 ,电容器的介质,与MEMS膜
提供中间层电介体(ILD)的PECVD(低温)氧化物,氮氧化,氮化物,为跨一级介电常数( ild ) ,电路钝化,应力控制(拉伸和压缩)薄膜MEMS的应用,并作为MEMS的牺牲层。
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